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產(chǎn)品介紹 LZ-990膜厚計,操作簡單,機(jī)身緊湊，LZ-990膜厚計具有高精度和自動識別基底材料優(yōu)勢。LZ-990膜厚計即使斷電內(nèi)存數(shù)據(jù)也不會被清除

產(chǎn)品介紹 日本KETT測厚儀LZ-373測厚儀/日本KETT測厚儀LH-373/日本KETT測厚儀LE-373能測量平均值;日本KETT測厚儀使用筆式單點接觸恒壓探頭;日本KETT測厚儀可設(shè)置膜厚度的...

產(chǎn)品介紹 HC-UMT85S超聲波測厚儀測量精度高,測量范圍大；HC-UMT85S超聲波測厚儀中英文雙語言版本; HC-UMT85S超聲波測厚儀內(nèi)置 7 種常用材料的聲速;HC-UMT85S超聲波測厚...

產(chǎn)品介紹 MT130 涂層測厚儀一體式兩用測厚儀;HC-MT130涂層測厚儀A、采用合金一體化探頭;HC-MT130 涂層測厚儀操作簡單,測試速度快;HC-MT130 涂層測厚儀超大液晶屏背光顯示

聲學(xué)成像儀FILR Si124是專業(yè)的聲源定位產(chǎn)品; 現(xiàn)場快速檢測氣體管道泄漏檢測；HM-AP56聲學(xué)成像儀現(xiàn)場演示；HM-AP56聲學(xué)成像儀實時聲音可視化

產(chǎn)品介紹 FLIR Si124是一款簡單易用的聲學(xué)成像儀;Si124聲學(xué)成像儀內(nèi)置124個麥克風(fēng);FLIR聲學(xué)成像儀即時查看氣體管理泄露情況；FLIR聲學(xué)成像儀頻率范圍2 kHz至31 kHz

產(chǎn)品介紹 ii900聲學(xué)成像儀利用超聲波圖像覆蓋在可見光圖像上；FLUKE ii900聲學(xué)成像儀借助全陣列麥克風(fēng)掃描較大范圍區(qū)域；FLUKE ii900聲學(xué)成像儀利用聲音通過麥克風(fēng)陣列來辨別產(chǎn)生聲音的...

日本AD超聲波測厚儀可測量大范圍的小厚度 搭載有掃描模式，根據(jù)不同用途 3種探頭可選，可測量涂層厚度（聲波回聲模式下，可除去涂裝或涂層厚度后對測量物進(jìn)行測量）

非接觸激光測振儀是一套高精度的振動測量設(shè)備，該儀器采用基于多普勒原理的激光振動測量技術(shù)，地測量振動和聲學(xué)信號，包括位移、速度和加速度。利用自行研發(fā)的超速數(shù)字信號處理技術(shù)（ultaDSP）確保了測量的高...

V100激光測振儀不需要在被測物體上安裝傳感器，只需對針測量點，對發(fā)射激光及接受激光進(jìn)行特殊技術(shù)處理，測量被測物體的振動數(shù)據(jù)，特別適用于機(jī)器零部件，航天、航空、超聲、汽車電子元器件等微小物品振動測量。